植物冠层图象分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律,在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下,采用半理论半经验的公式,通过冠层孔隙率的测定,计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下,植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法,该方法是各类方法中准确和省力、省时、快捷方便的方法。
可测量指标
叶片平均倾角
叶面积指数
叶面积密度的方位分布
仪器主要技术参数
分辨率:768×494pix
工作温度:0~55℃
电 源:8.4v可充电锂电池组
探头尺寸:直径6cm,高10cm 总 重 量:500克(不含笔记本电脑)
浙公网安备 33010602009130号